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    梅特勒XP超越系列分析天平

    梅特勒XP超越系列分析天平

    產品時間:2022-06-09

    簡要描述:

    梅特勒XP超越系列分析天平是分析天平領域中的又一里程碑。顛覆性的創新設計帶來了*的稱量性能并為操作者、樣品稱量和數據管理的安全性設立了新的標準。

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    梅特勒XP超越系列分析天平產品介紹

    ★梅特勒-托利多的超越系列型分析天平是分析天平領域中的又一里程碑。顛覆性的創新設計帶來了*的稱量性能并為操作者、樣品稱量和數據管理的安全性設立了新的標準。

    ★紅外感應器(SmartSense),實現無需用手接觸的稱量操作:開關門、打印、去皮等

    ★彩色智能觸摸屏(SmartScreen),實現安全,便捷的天平操作

    ★網格秤盤(SmartGrid),獲得快速、準確稱量結果

    ★水平控制系統(LevelCControl), 在天平偏移水平位置時提供警告提示功能

    ★易巧稱量組件(ErgoClip),滿足使用不同容器的稱量需求

    ★用戶管理工具(UserManagement),可以立設置操作者的使用權限

    ★MinWeighzui小稱量值功能,提供符合規范的稱量幫助(需要梅特勒-托利多客戶服務工程師現場設置激活)

    ★天平校驗功能(BalanceCheck),自動提示用戶使用外置砝碼校驗天平,確保稱量結果始終準確

    ★ProFACT專業級全自動校準技術,溫度漂移和時間設置觸發的內置砝碼自動校準和全自動線性校準,獲得稱量結果

    ★*可拆卸、清洗的防風罩設計,實現快速清潔

    ★高度可調節的內置防風罩,確保稱量結果

    ★可移動、分離的顯示控制終端,方便天平使用

    ★標配RS232通訊接口和一個可用于藍牙、以太網、USB、LocalCan、RS232和PS/2通訊接口選件插槽,方便連接打印機、電腦等外圍設備

    ★顯示屏塑料保護罩,避免散落樣品的腐蝕

    ★6種內置應用稱量程序:簡單稱量、計件稱量、百分比稱量、密度測定、統計功能、公事稱量

    梅特勒XP超越系列分析天平技術指標

     

    型號

    XP105DR

    XP204

    XP205

    XP205DR

    XP504

    zui大稱量值

    120g

    220g

    220g

    220g

    520g

    精細量程的zui大稱量值

    31g

    ……

    ……

    81g

    ……

    可讀性

    0.1mg

    0.1mg

    0.01mg

    0.1mg

    0.1mg

    精細量程的可讀性

    0.01mg

     

     

    0.01mg

     

    重復性:正常加載(sd)

    0.06mg(100g)

    0.07mg(200g)

    0.03mg(200g)

    0.06mg(200g)

    0.12mg(500g)

    重復性:微量加載

    0.05mg(10g)

    0.05mg(10g)

    0.015mg(10g)

    0.05mg(10g)

    0.01mg(10g)

    重復性:精細量程微量加載

    0.015mg(10g)

    ……

    ……

    0.015mg(10g)

    ……

    線性

    0.15mg

    0.2mg

    0.1mg

    0.15mg

    0.4mg

    四角誤差

    0.2mg(50g)

    0.25mg(100g)

    0.2mg(100g)

    0.25mg(100g)

    0.4mg(200g)

    靈敏度漂移

    4x10-6

    3x10-6

    2x10-6

    2.5x10-6

    3x10-6

    靈敏度溫度漂移(10-30°C)

    1x10-6/°C

    接口更新速率

    23/s

    天平外型尺寸

    (W×D×H mm)263×486.5×322

    秤盤尺寸(W×D mm)

    76×73

     

     

     

     

     

     


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