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    梅特勒XS 分析天平

    梅特勒XS 分析天平

    產品時間:2022-06-09

    簡要描述:

    梅特勒XS 分析天平致力于獲得高生產率。 XS 天平的諸多優勢關注于一個目標:使您更加簡單、安全地工作,從而實現更高的效率。

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    讓高生產率的稱量工作變得簡單:

    梅特勒XS 分析天平致力于獲得高生產率。 XS 天平的諸多優勢關注于一個目標:使您更加簡單、安全地工作,從而實現更高的效率。

    梅特勒XS 分析天平性能特點:

    ●采用分離的稱量單元和顯示控制單元,避免電子元件散熱對稱量結果準確性的影響
    ●優化天平適應性的稱量參數設置,滿足不同稱量環境要求
    ●*可拆卸、清洗的內部和外部玻璃防風罩設計,實現天平的快速清潔
    ●豐富的內置稱量應用程序:基礎稱量、統計功能、配方稱量、計件稱量、百分比稱量、密度測量、動態稱量
    ●GWPExcellenceTM一體化安全功能,確保天平始終正確工作

    觸摸屏(TouchScreen:背亮式觸摸屏是天平操作更加快速簡便。中文界面和圖符顯示的用戶操作指南清晰易懂,幫助您有效節省操作時間。

    網格秤盤(SmartGird:有效降低稱量室中氣流對稱量的影響,從而縮短穩定時間。稱量過程中如果出現差錯,樣品會直接散落在網格秤盤(SmartGird)下的金屬底盤上,因而不會影響稱量結果,且不浪費您的樣品。

     

    技術參數:

    型號zui大稱量值
    [g]
    可讀性
    [mg]
    重復性(sd)
    [mg]
    線性誤差
    [mg]
    典型穩定時間
    [s]
    秤盤尺寸
    (W×D)[mm]
    XS105DU41/1200.01/0.10.02/0.10.24/1.578×73
    XS205DU81/2200.01/0.10.02/0.10.24/1.578×73
    XS64610.10.10.21.578×73
    XS1041200.10.10.21.578×73
    XS2042200.10.10.21.578×73
    XS204DR81/2200.1/10.1/0.70.53.5/1.578×73

    DR=變量程;DU=雙量程;sd=標準偏差

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